Система сканирующей ион-проводящей микроскопии

Особенности:

- Сканирующий ион-проводящий микроскоп;

- Конфокальный модуль для СИПМ;

- Работа с живыми клетками;

- Неинвазивные исследования.

Подробнее

Фото

Описание

Система для сканирования образцов на основе сканирующего ион-проводящего микроскопа

ICAPPIC предлагает специальные системы сканирующей ион-проводящей микроскопии (SICM) для широкого спектра исследований живых клеток. SICM система позволяет неинвазивно исследовать структуру и функцию клеток в режиме реального времени в физиологических условиях.

Системы SICM, производимые ICAPPIC, можно использовать в сочетании с другими методами, такими как конфокальная микроскопия, микроинъекции, электрохимические измерения, патч-кламп-записи, а также оптические флуоресцентные методы.

Наномасштабное исследование живых клеток, их структуры и состава дает ценную информацию о сложных процессах, происходящих в биологических системах. Точное позиционирование зондов на основе нанопипеток для воздействия на определенные области клеток, а также возможность сочетать это с оптическими флуоресцентными методами обеспечивает беспрецедентный уровень контроля применения веществ (например, агонистов или антагонистов) и определения распределения нанообъектов (наночастиц, белков, наногелей) на поверхности или внутри живых клеток.

Модульный подход дает исследователям возможность создавать системы, специально разработанные для их конкретных приложений и бюджета. ICAPPIC также предоставляет консультационные услуги по сборке систем на базе модулей ICAPPIC и их интеграции с существующими экспериментальными установками (оптическая, флуоресцентная, конфокальная, FRET-микроскопия).

Характеристики

Сканирующий ион-проводящий микроскоп (СИПМ)

Универсальный контроллер ICAPPIC с двухканальным усилителем ионного тока
ICAPPIC Z-столик с ручным позиционированием нанопипетки по осям XY
ICAPPIC XY-столик с ручным грубым позиционированием образца по осям XY
ICAPPIC Стенд для столиков XY и Z с экраном Фарадея
ICAPPIC 3-канальная система управления пьезо. Активные каналы: X, Y, Z
Моторизация Z-ступени ICAPPIC (опционально)
Моторизация XY-ступени ICAPPIC (опционально)
Высокоскоростной дополнительный модуль для Z-столика и дополнительный канал без обратной связи для системы управления пьезо (опционально)
Надстройка для наномеханического картирования (опционально)
Инвертированный оптический микроскоп
Дополнение для patch-clamp

Поверхностный конфокальный модуль для СИПМ

Лазерный модуль (473 нм и 635 нм)
Детекторный модуль (для 473 нм и 635 нм)
Дополнительный канал для Piezo Control Sustem
Объектив Пьезо
Настройка конфокального модуля на другую длину волны

SICM

Сканирующая ион-проводящая микроскопия

Что такое сканирующая ион-проводящая микроскопия?

Сканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM) — это метод, который позволяет неинвазивно в реальном времени исследовать топографию, структуру и функции клеток в физиологических условиях. Наномасштабное разрешение достигается за счет использования стеклянных нанопипеток, которые изготавливаются с помощью лазерного пуллера.

Для достижения точной обратной связи по расстоянию SICM измеряет ток между двумя электродами: один внутри нанопипетки, а другой в водной среде, содержащей электролит. Когда нанопипетка опускается на поверхность образца, поток ионов затрудняется, поскольку зазор, через который могут течь ионы, уменьшается. Когда это снижение проводимости достигает порога, наконечник останавливается и его положение фиксируется. Таким образом, кончик нанопипетки не касается поверхности образца. Затем наконечник отходит от поверхности, и можно записать другое положение. Это обеспечивает точный и подробный профиль высоты образца неинвазивно и с наномасштабным разрешением.

Технология SICM выходит за рамки построения топографических изображений с наномасштабным разрешением. Этот метод был адаптирован для широкого спектра биологических применений, от биосенсоров до патч-кламп.

Применения

3D картирование: Картирование отдельных клеток с наномасштабным разрешением;
Конфокальная визуализация поверхности: одновременная SICM и конфокальная визуализация
Интеллектуальный патч-кламп: объединение измерений SICM и патч-кламп.
Наномасштабное осаждение: осаждение биомолекул, местное дозирование препарата.
Наномасштабная механика: наномеханическое картирование молекул и живых клеток.
Биосенсоры: комбинированное картирование SICM и pH. Нанозонды кислорода и АФК.
Материаловедение: сканирующая электрохимическая микроскопия, 3D-печать.

Корреляционная SICM и флуоресцентная конфокальная микроскопия (FCM)

Одновременные коррелятивные изображения SICM и FCM эндоцитоза флуоресцентных наночастиц клетками LNCaP

Местная доставка веществ

SICM и конфокальные флуоресцентные изображения живых трансфицированных ооцитов xenopus с каналами TRPV1

Локальное применение капсаицина с помощью импульса напряжения на одну клетку

Флуоресцентный ответ клетки на местное применение капсаицина

SICM топографическая визуализация


Политенная хромосома дрозофилы	Магнетоспириллы бактерии

Карцинома простаты из клеток человека (LNCaP)

Модули ICAPPIC

Модули

Применения	Модули ICAPPIC
	Универ- сальный контроллер	Пьезо контрол- лер	Механи- ческий стэнд	Z платформа	X-Y плат- форма	Высоко скорост- ной модуль	Конфо- каль- ный модуль	Нано- зонды
3D картиро- вание SICM	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Опция	Опция	Опция
SICM+конфо- кальная микроскопия	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Опция	Необходим	Опция
SICM+интеллек- туальный патч-кламп	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Опция	Опция	Опция	Опция
Локальное дозирование	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Опция	Опция	Опция	Опция
SICM+ наномеханика	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Опция	Опция
Локальные биосенсоры	Необходим	Опция	Опция	Опция	Опция	Опция	Опция	Необходим
SICM+материало-ведение	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Необходим	Опция	Опция

FAQ

Общие вопросы

Как сделать заказ?

Заказ можно сделать следующим образом:

позвонить в офис компании по телефону +7 (495) 792-39-88 и оставить заявку менеджеру;
прислать заявку по электронной почте info@azimp-micro.ru с указанием контактных данных;
отправить заявку через формы на сайте www.azimp-micro.ru;
оформить заказ, добавив интересующие товары в корзину.

В случае оформления заявки в электронном виде вам обязательно перезвонят для уточнения заказа.

Есть ли товар в наличии?

Товар бывает в наличии на нашем складе в РФ крайне редко. Из-за высокой стоимости и специфических характеристик высокотехнологического оборудования в большинстве случаев оно отсутствует и на складе самого производителя, так как производится под конкретный заказ.

Недорогие расходные материалы и дополнительные комплектующие, пользующиеся популярностью, производятся в значительном количестве и могут быть отправлены нам нашими поставщиками в течение пары дней после получения оплаты по инвойсу.

Срок поставки оборудования

Срок поставки оборудования зависит от 3 факторов:

1. Наличие товара на складе производителя и срок его производства;

Если товара нет на складе производителя, срок производства высокотехнологичного оборудования, как правило, составляет от трех до шести недель. Производство сложных комплексных систем может занимать больше времени.

2. Время на доставку груза в РФ;

Срок доставки груза в РФ зависит от его веса и габаритов. Если груз небольшой, то он летит самолетом, что занимает один-три дня до таможенного склада. Если вес груза измеряется сотнями килограммов, то он плывет кораблем в пределах месяца.

3. Срок прохождения таможенного контроля.

Данный этап занимает до 10 дней. В случае непредвиденных обстоятельств процесс таможенного оформления может затянутся на месяц и больше.

Срок поставки комплектующих Thorlabs занимает от 4 недель.

Ценообразование

В стоимость товара будет входить цена производителя, стоимость доставки, таможенные сборы и НДС. Цена в рублях также зависит от колебаний курса.

Для доступа к файлам требуется Авторизация

Документы

Брошюра

3.3 Мб

Статьи

Cканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM) и материаловедение

Нанопипетки SICM можно использовать для картирования окислительно-восстановительной активности электродов батареи. Визуализация физико-химических процессов в батареях является сложной задачей, однако сканирующая электрохимическая микроскопия ячеек (SECCM) предлагает новый и мощный подход.

Локальные биосенсоры и нанозонды со сканирующей ион-проводящей микроскопией (SICM)

Способность исследовать отдельные клетки в их среде имеет большое значение для понимания клеточных процессов и фенотипов. Нанопипетки SICM можно легко модифицировать для использования в качестве углеродных наноэлектродов, обеспечивая запись с высоким пространственным и временным разрешением для анализа отдельных клеток.

Cканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM) и наномеханика

SICM — полезная платформа для наномеханических исследований как молекул, так и живых клеток.

Cканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM) и локальное дозирование

SICM можно использовать для контролируемой доставки молекул на поверхность клетки с высоким разрешением для изучения биологических процессов.

Cканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM) и патч-кламп

Патч-кламп — это метод, используемый для исследования электрофизиологической функции ионных каналов в изолированных живых клетках, срезах тканей или участках клеточной мембраны. Однако традиционные методы патч-клампа не позволяют точно выбрать интересующую область.

Cканирующая ион-проводящая микроскопия (SICM) и поверхностная конфокальная микроскопия

Сочетание SICM и флуоресцентной конфокальной микроскопии (SICM-FCM) позволяет одновременно получать изображения топографических деталей и флуоресцентно меченных элементов на поверхности клеток.

Сканирующая ион-проводящая микроскопия со “скачковым” режимом (HPICM)

HPICM позволяет осуществлять 3D-картирование живых клеток в физиологических условиях без их фиксации. Технология позволяет получать изображения деликатных структур, таких как нейронные сети и реснички, с наномасштабным разрешением.